JESD22
JEDEC的主要功能包括術(shù)語、定義、產(chǎn)品特征描述與操作、測試方法、生產(chǎn)支持功能、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性、機械外形、固態(tài)存儲器、DRAM、閃存卡及模塊、以及射頻識別（RFID）標簽等的確定與標準化。
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標準編號
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JESD22-A100C:2007
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標準名稱
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濕熱循環(huán)偏壓壽命試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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評估非固態(tài)封裝產(chǎn)品在溫度循環(huán)、高濕、偏壓及結(jié)露環(huán)境下。產(chǎn)品抗腐蝕和耐須晶生長性能。
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試驗方法/條件
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ramp time 2h～4h；storage 4h～8h；30~65℃,90%～98%RH
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嚴酷等級
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默認除非特例
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時間
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1008(-24,+168)h
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匹配設(shè)備
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HONGZHAN的J系列、LHU系列、SH系列、Walk-in等
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設(shè)備要求
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可編程交替溫濕度變化
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標準編號
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JESD22-A102D:2010
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標準名稱
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高加速蒸煮試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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這個測試方法主要適用于抗?jié)駸岬慕研詼y試，通過高溫高壓飽和濕氣環(huán)境，引發(fā)分層或金屬化腐蝕等失效。主要針對新封裝材料及結(jié)構(gòu)變化的考量。
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試驗方法/條件
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121±2℃,100%RH,205KPa
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嚴酷等級
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Condition A~F
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時間
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24(0,+2)h；48(0,+2)h；96(0,+5)h；168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h
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匹配設(shè)備
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EHS-211、EHS-411
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設(shè)備要求
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高壓蒸煮設(shè)備
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標準編號
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JESD22-A103D:2010
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標準名稱
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高溫儲存壽命試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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高溫存儲測試通常用于確定時間和
溫度對產(chǎn)品的影響。
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試驗方法/條件
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125(0,+10)℃；150(0,+10)℃；175(0,+10)℃；200(0,+10)℃；250(0,+10)℃；300(0,+10)℃；
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嚴酷等級
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Condition A~F
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時間
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Condition B 1000h or specifying in accordance with JESD47
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匹配設(shè)備
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HONGZHAN的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等
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設(shè)備要求
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試驗過程能穩(wěn)定控溫
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標準編號
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JESD22-A104D:2009
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標準名稱
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溫度循環(huán)
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試驗?zāi)康?ruby>
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本實驗用來確定組件、互聯(lián)器件對交替溫度極限變化產(chǎn)生的機械應(yīng)力的耐受性。
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試驗方法/條件
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-55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0)
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嚴酷等級
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Condition A~N
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時間
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500~1000h根據(jù)具體條件指定
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匹配設(shè)備
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TCC、Global-N系列
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設(shè)備要求
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較高的溫變速率
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標準編號
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JESD22-A105C:2004
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標準名稱
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上電和溫度循環(huán)
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試驗?zāi)康?ruby>
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適用于半導(dǎo)體器件，在交替的高低溫極限中周期的施加卸除偏壓，用于模擬樣件所遭受的最惡劣環(huán)境
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試驗方法/條件
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-40(+0,-10)℃～+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min
-40(+0,-10)℃～+125(+10,-0)℃ ramp time 30min ,dwell time 10min
power on/off 5min
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嚴酷等級
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Typical condition A~B
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時間
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10 minutes at each extreme temperature
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匹配設(shè)備
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J系列、MC、AR系列、BTZ、Global-N系列
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設(shè)備要求
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具有可編程控制能達到指定的溫度變化數(shù)率
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標準編號
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JESD22-A106B:2004
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標準名稱
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熱沖擊
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試驗?zāi)康?ruby>
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這個測試是為了確認樣品暴露于極端溫度變化的抵抗力和造成的影響。
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試驗方法/條件
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85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃ TT less than 20s
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嚴酷等級
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Condition A~D
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時間
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協(xié)議商定
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匹配設(shè)備
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TSB
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設(shè)備要求
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液體導(dǎo)熱媒介
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標準編號
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JESD22-A107B:2004
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標準名稱
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鹽霧實驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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用來確定固態(tài)器件抵抗鹽霧腐蝕能力
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試驗方法/條件
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35(+3/-0)℃,沉降30±10克每平方米每24小時，pH 6.0~7.5.
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嚴酷等級
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Condition A~D
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時間
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24h;48h;96h;240h.
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匹配設(shè)備
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板橋理化的SQ系列
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設(shè)備要求
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適合完成中性鹽霧條件的試驗箱
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標準編號
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JESD22-A108D:2010
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標準名稱
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高溫環(huán)境條件下的工作壽命試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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這個測試用于確定偏差的和溫度對固體器件的影響。短時間一種高溫偏壓的壽命測試,俗稱老化,可能被用來剔除早夭期相關(guān)故障。
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試驗方法/條件
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125℃/-10℃
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嚴酷等級
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由測試時間決定
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時間
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168h；336h；504h或另外商定
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匹配設(shè)備
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HONGZHAN的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等
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設(shè)備要求
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樣品在通電狀態(tài)下溫箱溫差控制在5攝氏度內(nèi)
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標準編號
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JESD22-A110D
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標準名稱
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高加速壽命試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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高加速溫濕度應(yīng)力試驗是為評估非氣密性固態(tài)器件在潮濕及電偏壓的環(huán)境中的可靠性。
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試驗方法/條件
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130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power
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嚴酷等級
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由所選溫度點決定
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時間
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96h;264h
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匹配設(shè)備
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EHS-211、EHS-411
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設(shè)備要求
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能夠達到指定的溫濕度條件，并且具備給試樣施加電偏壓的結(jié)構(gòu)
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標準編號
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JESD22-A118A:2011
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標準名稱
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不上電的高加速濕氣滲透試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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高加速溫濕度應(yīng)力試驗是為評估非氣密性固態(tài)設(shè)備器件在潮濕的環(huán)境中的可靠性。
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試驗方法/條件
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130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;
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嚴酷等級
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由所選溫度點決定
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時間
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96h;264h
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匹配設(shè)備
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EHS-211、EHS-411
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設(shè)備要求
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能夠達到指定的溫濕度條件
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標準編號
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JESD22-B103B:2002
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標準名稱
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振動和掃頻試驗
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試驗?zāi)康?ruby>
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這個測試是評估電氣設(shè)備組件。它的目的是確定組件)承受中度到重度的振動運動的結(jié)果 運輸或野外作業(yè)產(chǎn)生的。
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試驗方法/條件
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正弦掃頻實驗、隨機振動試驗
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嚴酷等級
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正弦掃頻實驗分8個等級；隨機振動試驗從試驗等級A~I
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時間
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正弦1decade/min掃過指定等級的規(guī)定的頻率范圍，4次每個軸,3個軸；隨機每個軸30分鐘，3個軸
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匹配設(shè)備
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DC-3200-36
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設(shè)備要求
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電磁振動臺
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