高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品展商: 其他品牌
產(chǎn)品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產(chǎn)品（整機）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數(shù)等因素。高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
的詳細介紹
高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber簡介：本試驗箱適用于考核產(chǎn)品（整機）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數(shù)等因素。
高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術參數(shù)
型號
|
|
TS 60
|
TS 120
|
TS 120 P
|
TS 300
|
TS 300 P
|
測試空間容積
|
l
|
60
|
120
|
120
|
300
|
300
|
移動提籃最大負載
|
kg
|
20
|
50
|
50
|
100
|
100
|
|
試驗空間尺寸：
高（H）x寬（W）x深（D） m
|
mm
|
370x380x430
|
410x470x650
|
410x470x650
|
610x770x650
|
610x770x650
|
熱箱溫度范圍
|
°C
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
+50 至 +220
|
冷箱溫度范圍
|
°C
|
–80 至 +70
|
–80 至 +70
|
–80 至 +70
|
–80 至 +70
|
–80 至 +70
|
熱箱升溫速率①
|
K/min
|
17.0
|
14.0
|
18.0
|
11.0
|
23.0
|
冷箱降溫速率①
|
K/min
|
3.7
|
6.3
|
7.5
|
5.0
|
12.0
|
冷箱升溫速率,單箱操作①
|
K/min
|
3.2
|
2.0
|
2.0
|
1.5
|
1.5
|
溫度波動度②
|
K
|
±0.3 至 ±1.0
|
±0.3 至 ±1.0
|
±0.3 至 ±1.0
|
±0.3 至 ±1.0
|
±0.3 至 ±1.0
|
溫度均勻性③
|
K
|
±0.5 至 ±2.0
|
±0.5 至 ±2.0
|
±0.5 至 ±2.0
|
±0.5 至 ±2.0
|
±0.5 至 ±2.0
|
熱/冷箱轉(zhuǎn)換時間
|
sec
|
<10
|
<10
|
<10
|
<10
|
<10
|
恢復時間–溫度變化測試
|
min
|
<15④
|
<15⑤
|
<12⑥
|
<15⑦
|
<15⑧
|
熱箱校準值⑨
|
°C
|
+125
|
+125
|
+125
|
+125
|
+125
|
冷箱校準值⑨
|
°C
|
–40
|
–40
|
–40
|
–40
|
–40
|
①
根據(jù)IEC 60068-3-5。通過選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來提高溫度變化速率。
②有效測試空間中心點。
③基于設置點；溫度范圍 –65 °C to +200 °C。
④MIL-STD-883 E，方法 1010.9，強度級 D ，4.5 kg ICs 分布于2個樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測量。
⑤MIL-STD-883 J，方法 1010.9，強度級 D，12 kg ICs 分布于3個樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測量。
⑥MIL-STD-883 F，方法 1010.9，強度級 D，20 kg ICs 分布于3個樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測量。
⑦
MIL-STD-883 J，方法 1010.9，強度級 F，25 kg ICs 分布于3個樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測量。
⑧
MIL-STD-883 F，方法 1010.9，強度級 F，50 kg ICs 分布于3個樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測量。
⑨出廠計量。
